梅特勒XS3DU分析天平產品介紹:
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能,完全滿足基礎稱量應用:在800 mg的精細量程范圍內提供1 μg的可讀性。具有同類產品中最佳的重復性可低至0.8 μg,是獲得理想的稱量可靠性的關鍵,避免不必要的重復測試,顯著地降低了樣品和時間的浪費。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。
梅特勒XS3DU分析天平技術參數:
物料號 (s) | 11122445 |
商業名稱 | 11122445 |
極限值 | XS3DU 雙量程 |
最大稱量值 | 3.1 g |
可讀性 | 0.01 mg |
最大稱量值 | 0.8 g |
可讀性 | 0.001 mg |
重復性(sd) - 加載處 | 0.006 mg |
- 低加載(加載處) | 0.005 mg (0.2 g) |
重復性(sd) - 加載處 | 0.001 mg |
- 低加載(加載處) | 0.0008 mg (0.2 g) |
線性誤差 | 0.004 mg |
典型值 4) | |
典型重復性(sd) | 0.0005 mg +1.2 x (10 –7 )?R_gr |
典型微分非線性(sd) | √2x(10 -12 )g·R_nt |
典型靈敏度偏移(sd) 2) | 3 x (10 –6 )?R_nt |
典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.1 mg+2.4 x (10 –6 )?R_gr |
典型穩定時間 | < 6 sec |
穩定時間 | < 10 sec |
1) 根據OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內
3) 第一次安裝,使用proFACT校準,靈敏度穩定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重(樣品質量) a=年
* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進:- 選擇適當的稱量參數設置,- 選擇合適的天平放置位置,- 使用較小的去皮容器。
梅特勒XS3DU分析天平描述:
標準配置 | 內置稱量應用程序 | ||||||||||||||
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梅特勒XS3DU分析天平特征和利益:
世界領先的稱量性能: XS3DU微量天平具有高性能的稱量傳感器,提供稱量結果的至高重復性。 |
杰出的用戶友好界面: TouchScreen觸摸屏,實現快速簡單的稱量操作。 |
連通性: 標配RS232接口,以第二接口選件插槽,可提供多種通訊接口選件,包括以太網、藍牙(無線連接)和PS/2等,進行有效的數據采集,便于網絡集成。 |
U形去靜電裝置(選件): 消除稱量樣品和容器中積聚的靜電荷,確保稱量的準確性。 |
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